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X荧光光谱仪故障分析与处理

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摘要摘要：X射线荧光光谱分析（X-Ray Fluorescence Analysis），是一种非破坏性的仪器分析方法。它是由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出特征X射线荧光，也就是二次X射线。根据谱线的波长和强度，对被测样品中元素进行定性和定量分析。仪器分析范围广（9F-92U），分析浓度宽（0.0001%～90%以上），稳定性、准确性优越，故而被广泛应用于钢铁、有色金属等各个领域。故障产生多是基于各系统工作状态异常，结合荧光光谱仪软件程序中的错误记录提示，分析出错原因，排查相应位置，找到症结排除故障。

DOI 0dp5r7zx42/6454869

作者王涛

机构地区遵义铝业股份有限公司贵州省遵义市 563000

出处《中国科技信息》 2022年12期

关键词 X射线荧光光谱故障处理

分类 [][]

出版日期 2022年09月27日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）