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X射线荧光光谱法测定红土镍矿中多种元素

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摘要分别研究了采用压片、熔片两种制样方法，用x射线荧光光谱法（XRF）测定了红土镍矿中的9种元素。压片法重点研究了基体效应校正，经散射线作内标和经验系数法校正后，可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素，方法简便、快速；而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择，经基体效应校正，各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美，其相对标准偏差（RsD）在0．50％-3．00％间。

DOI pj0x76eyjy/1111751

作者彭南兰;李小莉;华磊;王学伟;陈芸平

机构地区不详

出处《中国无机分析化学》 2012年1期

关键词 X射线荧光光谱仪红土镍矿粉末压片熔融片多元素

分类 [理学][化学]

出版日期 2012年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国无机分析化学

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