简介：为了确定各红外热成像定量测量方法在深度定量测量方面的检测能力，对深度定量测量方法原理进行了分析，并进行了实验研究。通过在碳纤维层压板反面制作平底孔的方法制造已知深度分层缺陷，采用红外热成像方法对已知缺陷进行检测，从理论上分析温差峰值时间、对数温度偏离时间以及对数温度二阶微分峰值时间与缺陷深度的关系，通过分析确定温差峰值时间法、对数温度偏离时间法、对数温度二阶微分峰值时间法对深度进行定量测量方法的适用性，并利用上述方法对已知缺陷进行深度定量测量分析，确定不同方法对深度定量测量的检测适用性及检测能力。实验结果表明，温差峰值时间法测量深度达到2mm，对数温度偏离时间法测量深度达到4mm，对数温度二阶微分峰值时间法测量深度达到5mm，同时对数温度二阶微分峰值时间法受三维热扩散影响小，检测无需选择参考区域。因此，对数温差二阶微分法所能测量的缺陷深度最大，准确性更高。通过对不同方法进行应用分析，能够明确不同深度定量测量方法的适用范围与检测准确性，为主动式红外热成像方法的定量检测提供依据。

简介：针对目前CMOS探测器的噪声研究绝大部分采取频率域的分析方法，所得的结果对于实际的探测器应用指导性不强。从时间域出发，构建了全新的探测器噪声模型，分析了在探测器的不同工作时期内噪声量大小同时间的关系。给出了探测器工作时序的优化准则，积分时间越长，系统的信噪比增加，输出信号电压值增大，等效输入端信噪比不变，系统的动态范围减小；复位时间越短，输出噪声量越小，但是图像的滞后效应也就越严重，在对弱小目标进行成像时应该尽可能地减少复位时间，增大积分时间，对于亮目标成像，应该增大复位时间，减少积分时间。

简介：超快激光一般是指脉冲宽度短于10ps的脉冲激光,主要指短皮秒和飞秒（10-15s）激光。这个时间尺度短于激发态电子向晶格弛豫能量的所需时长,使光与物质相互作用呈现了与通常光激发显著不同的特性,也促成了其崭新的光电应用。围绕飞秒激光与物质相互作用快（作用时间短）、强（瞬态功率高）、精（非线性使作用区体积小,用作加工分辨率高）的特点,开展了系列研究,包括飞秒激光超快光谱用于光/电-电/光转换动力学探索,激光诱导气体成丝用于近程遥感探测,及飞秒激光微纳加工用于新原理、新材料微纳集成器件的制备。介绍了相关研究的进展。

简介：利用等效折射率模型对光子晶体光纤与普通单模光纤的耦合情况进行了分析,并用有限元分析模型对等效折射率法得到的模场半径随着跨距的增大而增大的模场特性进行了验证,得到了当光子晶体光纤的填充比固定时,随着跨距的增大,耦合损耗会随之减小到最小值,然后又再度增大这一结论.并通过合理地选择光子晶体光纤的填充比以及跨距来提高耦合效率.

简介：阐述了高光谱遥感的特点、优势,以及在航空及航天领域的发展情况,列举了几种典型高光谱成像仪的光学系统原理和主要技术指标。在此基础上,概述了高光谱遥感在植被生态、大气环境、地质矿产、海洋、军事等领域的应用情况。最后对高光谱遥感发展趋势提出了几点建议,包括低反射率目标遥感、高信噪比、高空间分辨率及宽覆盖范围等方面。

简介：变换光学（TransformationOptics）可以使几何空间上的变化转移到非均匀光学超材料的光学参量的变化上。光学隐身就是其中典型的例子，就在几年前人们还认为这是不可能的。为了制备光频段、宽带、偏振不敏感、三维的光强、相位隐身材料，利用激光直写结合受激辐射耗尽技术，可以突破传统的衍射极限。这种变换的思想同样可以应用到其他领域，如力学（确切地说，弹性动力学）和热力学。还讨论了相关的实验过程和研究结果。

简介：着重介绍了SMUX协议的内容及工作原理,并讨论了SMUX协议作为SNMP代理的扩充的实现方法,给出了在EPON系统中利用SMUX协议实现分布式网络结构的具体方案.

简介：扫描拼接技术由于原理简单、易于实现而被广泛应用于全景成像系统中,然而该系统中使用的二维扫描镜在工作过程中会引起图像旋转。对二维扫描镜引起的像旋进行特性分析能够指导全景成像系统中像旋校正。假设物理为球面,基于光学反射矢量理论基础对水平扫描和俯仰扫描进行像旋特性分析比较。仿真结果表明二维扫描镜在水平扫描时像旋角与旋转角比例为1∶1,而俯仰扫描不存在比例关系,可以对精确实现光机消像旋提供指导作用。

简介：在大型光学系统中使用薄型镜面以减轻大口径光学镜面的重量，但由于薄镜面在重力作用下形变严重，需要选择适当的支撑方式来维持光学镜面的面形。通过对支撑方式的分析，采用有限元仿真，讨论了支撑点分布方式、支撑分布位置和支撑点数三方面对镜面形变的影响，从而得出支撑点均匀分布优于非均匀分布；支撑点数一定时，镜面形变主要由支撑点位置决定；10个支撑点以上镜面形变相对较小，继续增加支撑点并不能使镜面最大形变得到显著改善同时会引起镜面波纹起伏增加。

简介：提出了一种由硅一空气孔作包层，两个环状掺杂区作芯的双环芯微结构光纤，并用有限差分法对它进行了分析。结果表明，基模电场能由弱到强地集中在双环掺杂的芯区，且环外较弱，环心最强。在1.55μm波段，有较大色散，这在光纤色散补偿中将起到重要作用。

简介：光电指向器的轴系精度直接影响到光电系统的整体性能指标。分析了光电指向器轴系之间精度影响关系，根据对方位轴系、俯仰轴系和视轴轴系的各项误差源分析计算出各轴系误差值，结合在安装过程中方位轴系误差与俯仰轴系误差建立数学模型，寻找方位角和俯仰角与方位轴系、俯仰轴系、视轴轴系的误差之间的耦合关系，并将三个轴系误差进行耦合后建立数学模型分析。该分析方法和结果为光电指向器的多轴系结构耦合误差设计提供了理论及工程依据。

简介：光束合成是研制高功率、高光束质量固体激光器的必由途径。建立板条介质固体激光器阵列光束合成的理论模型，从子束间距、整体相位差、偏振态、随机像差等方面，分析了合成光束的远场特性。通过数值模拟可以看到，子束间距决定了合成光束远场光斑的衍射旁瓣的大小和多少；子束间整体相位差决定着合成光束远场中心光斑是否分离，并影响着峰值光强和工方向半径大小；偏振态差异决定了合成光束是否为相干合成或强度叠加；予束随机像差降低了合成光束的远场光斑峰值功率，并引起光束的弥散。分析结论对激光器研制中合理分配设计容差具有一定指导意义。

简介：以我们对铯原子法拉第反常色散原子滤光器(FADOF)的研究为基础,结合其它FADOF的研究成果,介绍了FADOF的原理、特性、以及在滤波、鉴频、磁光调制等方面的应用.

简介：叙述了近年来在天津大学研究及开发光互连网络的情况.这些研究围绕着解决信号传输中的延迟和通信带宽,开展的研究工作有:完成包括64个处理器的光电混合处理器阵列系统;giga-bit/s机群系统光互连链路;在链路中采用时分复用技术(TDM),实现了"虚拟并行传输";在链路中设计了硬件路由功能,并组成光环网;在网络系统中实现波长路由,并建立了波长路由双环网,采用该技术可以避免路由延迟;在光互连网络中应用了MEMS光开关,实现了星型-环形二级结构;用同步光传输技术实现了多通道数据传输卡.

简介：银纳米团簇因其独特的与尺寸相关的光、电、磁和催化性能,引起了相关研究人员的高度关注,我们团队一直专注于研究用基于DNA保护的银纳米团簇监测DNA、Hg2＋和巯基化合物。发现发生在DNA/银纳米复合物与G-四链体/血红素之间光诱导电子转移（PET）,伴随着DNA/银纳米荧光减弱。这一新的PET系统使目标生物分子,如DNA和敏感性高的ATP获得特异性和多样性的检测。首次提出一种以DNA单体作为支架的高产率银纳米簇的合成方法。在这项研究中,采用密度泛函计算理论解释了DNA保护的银纳米团簇的形成机理以及为什么富胞嘧啶DNA是荧光银纳米簇的良好支架。研究结果对DNA保护荧光银纳米簇进一步实验和理论研究提供了基本指导思想,最终可能有助于程序化合成具有光致发光性能的DNA稳定银纳米团簇。

简介：为使用大面积均匀分布的微球掩模制作纳米柱LED,对胶体微球单层薄膜的自组装技术进行了研究。采用旋涂法、滴定法和气液界面法,对2μm和455nm两种粒径的胶体微球进行自组装实验,并使用扫描电子显微镜进行观察和比较,分析了三种方法的优缺点。实验结果表明,旋涂法在制备过程中容易出现多层堆积现象;滴定法容易形成单层薄膜,但胶体微球较为稀疏;气液界面法可以实现较大面积的单层薄膜,胶体微球均匀分布,而且适用于各种基片,是一种简单有效的自组装方法。优选气液界面法,在GaN基LED外延片上制备了均匀分布的纳米柱结构,验证了这种方法用于纳米柱LED芯片制备的可行性。

简介：对纤端光场进行了理论分析，分别利用塑料光纤和多模光纤作为接收光纤对塑料光纤的出射纤端光场进行了测量，并与理论分析结果进行了比较，给出了合理的调和参数。传输距离较长的塑料光纤由于高阶模的泄漏，纤端光场分布非常接近高斯分布。实验结果表明了理论分析结果和调和参数选择的合理性。

简介：对光纤光栅的横向效应进行了理论分析，并通过实验对其进行了测量。分析表明其产生的原因是光纤纤芯的直径变化及光纤有效折射率随纤芯直径的变化率。通过平面应变模型，分析了在平面应变状态下光纤光栅的应变测量方法。针对光纤光栅横向效应带来的测量误差，以及单个光栅无法测量二维平面应变的不足，提出了一种采用铝合金材料对两根FBG进行十字型封装的新型结构，从理论上消除了光纤光栅横向效应带来的测量误差。

简介：利用单色平行光照射玻璃微珠,入射光在玻璃微珠内经过一次或多次内反射后出射光在最小偏向角会形成彩虹条纹。基于几何光学理论,根据最小偏向角的大小计算玻璃微珠的折射率。为了实现其快速测量,采用参数递推公式计算Otsu法的最佳阈值,并用改进的Otsu法对彩虹图进行了有效的阈值分割。提出了一种能快速有效判断彩虹条纹边缘的方法,并用该方法自动测量了彩虹条纹最外环边缘半径,从而实现了最小偏向角的快速计算。此外,对玻璃微珠折射率测量过程中的不确定度进行了计算,对不同型号的玻璃微珠,折射率的不确定度在10-4数量级,验证了上述方法的正确性。

简介：地基测量设备在出厂前通常进行精确的实验室标定，但是实际使用过程中，测量环境、使用时间，以及器件本身老化等因素使得设备输出响应发生变化，影响测量精度，因此需要定期对设备进行现场标校。提出了一种利用红外标准恒星辐射光谱对地基测量设备（主要是光谱仪）进行辐射标校的新方法，以校准因时间、环境等因素导致的系统输出响应偏差。