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  • 简介:介绍了应用高频红外碳硫仪测定碳化硅中的S含量。探讨了锡粒、纯铁、钨粒作为助熔剂的用量。并以生产用碳化硅经定值作为校准样品校正仪器,本方法的相对标准偏差RSD〈1%(n=6)。

  • 标签: 高频红外碳硫吸收法 碳化硅 硫含量