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  • 简介:如何选取训练样本使得SVM达到更好的效果是机器学习中的一个难题。本文提出一种改进AP聚类算法,通过二分法不断扫描偏向参数P空间,得到最优的偏向参数P,以期得到更准确的聚类效果,从而选取更高质量的训练样本,使SVM达到更好的分类效果。实验结果显示与传统的SVM及AP—SVM分类器相比,本文的BAP—SVM能够得到更高质量的训练样本,从而得到更好的分类效果。

  • 标签: AP聚类 SVM 偏向参数 二分法