简介：本文详细介绍了测量电动势的四种典型电路以及每种电路电动势的测量和计算的具体方法.

简介：本文介绍了用粘滞阻力修正法和粘滞阴力互相抵消法来精确地测量重力加速度。

简介：利用无源低通滤波和无源衰减器技术，研制了一种兼具触发功能和波形测量的闪烁探测系统。该系统有效避免了宇宙射线及暗噪声对探测系统触发功能的影响，克服了由于阻抗失配造成的时域反射对探测器波形测量带来的干扰，解决了脉冲辐射场波形测量中单套闪烁探测系统无法同时实现触发和脉冲波形无畸变测量的技术难题。实验结果表明，该系统既能确保触发功能的可靠性，又能实现脉冲波形测量的准确性，有效提高了系统效能。同时，利用该系统对宇宙射线的响应特征，可实现对系统工作状态的实时监测。

简介：本文主要研究了CCl4的拉曼散射光的偏振特性，通过观察和分析其光强分布图，计算出了CCl4的退偏比，并通过和理论计算结果的比较，了解分子结构和振动的对称性与拉曼光谱的偏振特性之闫的关系。

简介：电磁波在传播过程中如果遇到障碍物,就会产生反射和折射现象,并且遵守反射定律和折射定律。本实验利用一个金属板作为反射体,利用蒸馏水、乙醇、糖溶液（80%）作为折射体,验证了电磁波中反射现象和折射现象,同时测量出了液体的折射率。

简介：P225.22003010310满意估计下的激光回波率研究=Studyoflaserechoratebasedonsatisfactionestimation[刊,中]/程相权(南京理工大学自动化系.江苏,南京(210094)),郭治…//兵工学报.-2002,23(3).-332-335利用满意估计的思想对目标中心进行预测,以使在

简介：提出了一种利用薄膜反射光谱包络线法计算光电薄膜光学常数和厚度的方法。当一束光照射在基板上的介质膜上时，由于薄膜上、下界面反射光的相干，会使反射光谱的曲线有一定的波动。本文对反射光谱进行了理论分析，给出计算公式，从测量曲线中的实验值得出薄膜的厚度和光学常数。此种方法计算过程简单、迅速，而且易于编程处理。

简介：TN2472004010183飞秒激光脉冲的谐波频率分辨光学开关法测量研究=MeasurementoffemtosecondlaserpulsesusingSHGfrequency-resolvedopticalgatingtechnique[刊,中]/王兆华(中科院物理所光物理开放实验室.北京(100080)),魏志义…∥物理学报.—2003,52(2).—362-366建立了一台谐波频率分辨光学开关法(FROG)飞秒

简介：TN2472002020999新型大功率光光束光斑质量测试仪的软件开发=Soft-waredevelpmentofanewtypehigh-powerlaserbeamqualityanalyzer[刊,中]/雷訇,李强,左铁钏(北京工业大学激光工程研究所.北京(100022))∥北京工业大学学报.—2001,27(2).—197-201采用VisualC++、VisualBasic和汇编等多种计算

简介：通过测定扭摆在不同摆长和不同扭转角度下金属丝的切变模量和长方体铁块的转动惯量,研究了扭转角度和摆长对实验结果的影响,结果表明,摆长和扭转角度大于某一数值时,可以保证较好的实验测量精度和合理的实验时间。

简介：【本节需学习的内容】本节教材由“长度的单位及测量”、“时间的单位及测量”两个部分组成，介绍长度的特殊测量方法以及长度和时间的估测．

简介：薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。

简介：结合一个具体的实例介绍如何运用Origin软件处理间接测量量测量结果的方法。该方法操作简单、快速便捷。

简介：O432.195031443闪烁体瓦片/光纤量能器辐照损伤的进一步研究=Furtherstudyofradiationdamageoftile/fiberscintillatorcalorimeter[刊,中]/毛慧顺,史焕章,刘念宗,张竹湘,张彩娣(中科院高能物理研究所)∥高能物理与核物理.—1994,18(10).—870—878

简介：P225.22005010205基于CPLD的脉冲激光测距飞行时间测量=MeasurementofflighttimeforpulsedlaserrangingbasedonCPLD[刊,中]／杨成伟(清华大学电子工程系．北京(100084))．霍玉晶…∥激光与红外.-2004．34(2).-106-108研制了基于CPLD的脉冲激光测距飞行时间测量系统。CPLD的使用提高了激光测距仪的精度,并且可灵活修改设计,使同一硬件系统可用于不同类型的脉冲激光测距仪的飞行时间测量。此系统结构简单,体积小,可靠性高,非常适合高性能手持式脉冲激光测距仪。图2参5(杨妹清)

简介：O432.12002064028同步辐射光束弧矢聚焦单色化技术=Technologyaboutmonochromicsagittalfocusingbeambyadouble-crystalmonochromatorinsysnchrotronra-diation[刊,中]/周仁魁,周泗忠,傅翾(中科院西安光机所.陕西,西安(710068)),夏绍建(国家上海同步辐射中心.上海(201800))∥光电子·激光.—2001,12(12).—

简介：O43196021318金属基和涂层光学常数的测量=Measurementsofopticalconstantsformetalsandpaint[刊,中]/韩香娥,戚力彦,吴振森(西安电子科技大学物理系。陕西,西安(710071))∥光子学报。—1995,24(Z2)。—17—22采用椭偏法在λ=0.63μm波段测量了合金铝,

简介：电阻的测量是近年高考的热点。2001、2003、2005年高考物理实验题都与电阻的测量有关。高中实验中电阻的测量方法多样，具有一定的难度．学生普通感到难学。下面就对电阻的测量方法做些归类。

简介：为实现探测器响应率测量中辐射源的稳定红外辐射,利用高温黑体和干涉带通滤光片组合的方法得到了3.8μm中红外辐射,测量了HgCdTe中红外探测器的室温响应率.结果表明,通过上述组合方法获得了均匀的远场窄带红外辐射,可用于精确测量探测器在不同波段的响应率;分析了黑体源温度、干涉滤光片带宽和辐射距离对光功率密度的影响,并通过与其他标定光源的比对,验证了该方法的有效性.

简介：结合脉冲中子管的结构特征,建立了一套基于Al_2O_3单晶闪烁屏和CCD相机的中子管氘离子束束流截面测量系统。闪烁屏直径为15mm,厚度为0.5mm。为了降低测量本底,CCD相机工作在触发模式。利用有限元分析软件,模拟计算了典型中子管束流参数下的闪烁屏温度,并利用该测量系统获得了中子管氘离子束在靶面处的典型强度分布。结果表明,该测量系统可以准确地反映脉冲离子束束流的横向强度分布特征。