简介：立足实用化脉冲星导航技术需要，梳理了现有脉冲星导航探测方法及研究进展，结合探测器运行空间环境，分析了探测器指标，比较了现有天基x射线探测方法、载荷特点以及各探测技术存在的不足，并对空间辐射环境去噪方法进行了评述，对后续脉冲星导航探测方法构建及装置研制提出了几点建议。

简介：为了分析电流型CdZnTe（CZT）探测器的脉冲线性,利用CZT探测器测量得到了脉冲宽度为50ns的脉冲X射线响应曲线,采用波形时间积分法分析了其线性特性。结果表明,以波形时间积分为测量目标量,当X射线照射量在0.160-0.826mR范围时,在10%的不确定度范围内,样品探测器可作为线性测量系统的探测器件;以幅值为测量目标量,工作电压为400V时,在5%的不确定度范围内,样品探测器可作为线性测量系统的探测器件。

简介：在北京同步辐射装置3WlB光束线上，对天文观测用超软X射线(0.2keV-3．5keV)正比计数管探测器进行了系统地标定．得到了正比计数管的死时间、计数率坪曲线、能量线性、能量分辨、窗材料透过比曲线；借助于已标定过的光电二极管探测器，测量了正比管探到器的能量响应效率，标定不确定度在10％一18％之间．另外，还对正比管系统在卫星上的六道记录和在实验室里的多道记录进行了对比，两种记录方式符合得很好．

简介：TG115.28196021311射线探伤最新国际标准简评=Adiscussiononrecentinternationalstandardsforradiographicexamination[刊,中]/李衍(无锡锅炉厂)∥无损检测。—1995,17(11)。—515—316,322对欧洲标准化委员会最近提出的一个射线探伤新标准提出一些看法,竞在结合国情与国际标准接轨时提供借鉴。图1表5参4(吴淑珍)TL816.196021312X射线二极管的灵敏度标定和应用=Calibrationof

简介：TG115.28197010541X射线法检测GCr15轴承零件的回火缺陷=X-rayradiographicinspectionofbearingpartsfortemperingdefects[刊,中]/朱光辉(洛阳轴承公司.河南,洛阳(471039))∥无损检测.—1996,18(6).—166—167

简介：依据工作原理,比较了掠出射X射线荧光分析技术(GEXRF)和掠人射X射线荧光分析技术(Gl一XRF)的优缺点,比较角度包括实验装置、探测限、可探测元素范围、基体效应以及实验精度。比较结果表明,GEXRF的优点体现为:对实验装置要求低,对轻元素(4

简介：关于X光折射率小于1的讨论=AdiscussionontherefractiveindexofX—raylessthan1[刊,中]/谭业武(滨州师范专科学校物理系)∥大学物理.—1994.13(11).—22—23,21从几个不同的方面讨论了X光的折射率,并通过

简介：O434.2//TN232001021486紫外线技术在军事上的应用研究=Studyofapplicationofultravioletteehnolgoytomilitaryaffairs[刊,中]/张忠廉,刘榴娣(北京理工大学光电工程系.北京(100081))//光学技术.-2000,26(4).-289-293,296介绍了紫外线在军事上的应用和紫外波段光电探测器件的发展情况以及国内外紫外技术在军事上应用概况,提出了在军事应用方面如何对紫外线技术作进一步研究的建议。(李瑞琴)

简介：应用于高能闪光X光照相技术的X射线源主要是强流电子束与重金属靶相互作用产生的韧致辐射，一般应用电子直线感应加速器（LIA）产生强流电子束，电子束被聚焦到一个很小的焦斑后打靶。进行闪光照相时，X射线斑点大小是一关键参量，直接影响成像的分辨能力。由于高能X射线的强穿透能力和强辐射环境，传统的小孔成像法难以应用。

简介：通过软件实现了用ＰＣ机调用日本Ｒｉｇａｋｕ公司生产的Ｄ／ｍａｘ一类Ｘ射线衍射仪测量数据，利用ＰＣ机的复杂计算功能，使原有仪器也可以进行新的结构分析工作，扩展了仪器的功能。

简介：小角X射线散射(SAXS)是研究多孔材料结构的一种有效方法．可得到孔径分布、平均孔径、比表面、界面层厚度、分形维数等许多微结构信息．SAXS理论公式基于点状光源(针孔准直)，但实践中则大多采用长狭缝准直条件．简要综述了SAXS在长狭缝准直条件下直接应用模糊强度进行煤、炭、二凝胶、分子筛等多孔材料结构解析的方法、并与针孔准直进行了对比。

简介：薄壁曲面铅合金铸件（简称铅铸件）采用砂模或金属模铸造，经机械加工成壁厚约3-4mm的变壁厚曲面回转体，要求精加工后内部不得有大于φ0．4mm以上的渣孔类缺陷。

简介：O441．42005042976太赫兹(THz)成像的进展概况=ReviewoftheprogressofT-rayimaging[刊,中]／张蕾(首都师范大学物理系,北京(100037)),徐新龙…／／量子电子学报,-2005,22(2),-129-134评述了太赫兹射线成像的进展情况。太赫兹(THz)辐射介于微波和红外之间。与微波、X射线、核磁共振(NMR)成像相比,太赫兹成像不仅能给出物体的密度信息,而且能给出频率域的信息,以及在光频、微波和X射线范围内所不能给出的材料的转动、振动信息。太赫兹射线与其他频段的电磁波相比,它能量低,不会造成对生物样

简介：O434．122006065468强脉冲软X光辐照薄塑料闪烁体发光特性研究=LinearluminescenceforthinplasticscintillatorsunderintensesoftX-rayirradiation[刊,中]/宁家敏(中物院核物理与化学研究所．四川,绵阳(621900)),蒋世伦…//强激光与粒子束．—2006,18(7)．—1215-1218介绍了Z-pinch实验用软X光功率仪的测量原理,利用“强光一号”产生的强脉冲软X光对薄塑料闪烁体((?)40min×0．1mm)进行了辐照。实验中,采用两套软X光功率仪并安装在同一个大法兰面上．其中一套作为标准系统,参数保持不变,另一套系统的狭缝宽度逐渐增加,以改

简介：在北京同步辐射装置上应用同步辐射X射线小角散射技术研究TATB样品微孔状况，分析了微孔结构参数的变化。采用不同制备工艺(机械研磨、化学合成、气流细化、全结晶、粉碎)和不同存放时间的TATB粉末样品共计7份。

简介：介绍了辐射模拟加速器辐射场中脉冲X射线能谱的几种常用测量方法，阐述了基本原理、测量装置的典型系统组成、主要参数特性、技术发展状况和研究进展，描述了各种方法的优缺点和适用范围。以吸收法为例，综述了解谱技术的发展状况，并描述了多种解谱方法的特点。最后，重点介绍了西北核技术研究所脉冲X射线能谱测量的进展，并对测量系统抗噪和散射控制技术进行了评述。结合现有条件和技术成熟度，对今后工作的发展方向进行了展望。

简介：首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。

简介：文章介绍了用光学信息论的熵方法，在固定条件下，通过定量计算同一被摄物，在散乱射线不同的情况下，ｘ射线照相底片的信息量。而有效地评价散乱射线对底片象质影响。

简介：测量和分析了氟化钡(BaF2)晶体的基本光谱特性;设计并研制了一种反射式紫外带通滤光器,用于抑制BaF2晶体630ns慢响应荧光成分并获取0.6ns快响应荧光成分,快慢成分之比提高了102以上.基于该滤光器和BaF2晶体,研制了ns级时间响应γ射线探测器,可用于强流快脉冲γ射线测量.

简介：溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。