简介:摘要:由于科技的发展,信息技术早已变成我们日常生活中可有可无的部分,它不但彻底改变了我们的生活,而且也极大地提高了我们的效率。数十年来,计算机技术的智能化进程也在不断加快,它早已从贵族家庭的专利和国家机要单位里的奢侈品变成了普通民众可以轻松获取世界各地资讯的工具。计算机技术拥有强大的存储、分析和整合数据的能力,使得信息技术对于我们的生活变得至关重要。然而,计算机技术内容也存在一些挑战,当中最为凸显的就是安全方面。此外,计算机系统中的信息数量巨大,如何选择合适的信息内容,以及如何有效地利用这些信息内容,都是一个非常关键的课题,因此,妥善处理这些信息问题就显得尤为重要。本文旨在深入研究计算机信息安全存储与利用,并结合实际情况提出一系列有效的策略,以推进计算机技术的发展,促进经济的发展,为社会发展提供更多的机会和挑战[1]。
简介:NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性(Non-Volatile)特点,被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质,但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令,以启动内置编程/擦除算法,从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度。因此,研究NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以AMD公司的AM29LV160DT为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法,从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。