简介:摘要:针对目前常用的目标检测算法检测PCB板表面缺陷具有定位不准确、细小缺陷难以检测等问题,本文提出了多尺度特征融合的YOLO V3(Multiscale Feature Fusion,MFF-YOLO V3)PCB缺陷检测方法。受YOLO V3模型启发,通过设计卷积神经网络提取多尺度图像特征,将生成的多尺度特征进行融合以生成单尺度图像特征,然后运用聚类方法以实现对PCB板缺陷的准确定位。与YOLO V3不同在于,通过提高多尺度图像特征的分辨率并进行融合,提高了模型对PCB板微小缺陷的检测能力;为实现PCB板缺陷的精准定位,采用以AvgIOU为金标准的K-means算法实现候选目标区域的重定义。同时,由于MFF-YOLO V3实现了单输出以实现特征的提取,减小卷积层的层数,从而减小网络训练的计算量。通过在DeepPCB数据集上进行测试,其mAP较YOLO V3提升了9.2%,准确率达到了87.9%。实验表明,多尺度特征融合YOLO V3的PCB板表面缺陷检测方法能够更有效的检测PCB板缺陷,基本满足工业检测要求。