简介:目的:探讨改造后的数字X射线摄影(DR)影响平板探测器图像质量的因素及解决法案。方法:观察DR在一定曝光条件下显示器上图像受干扰的情况,通过改变平板探测器、滤线栅和显示器分辨3个主要成像环节的空间分辨率以及改变曝光条件,获得改善图像质量的效果。结果:改造后的DR,其平板探测器、滤线栅或显示器的空间分辨率的改变会直接影响图像质量;在一定范围内,改变曝光剂量后同样会影响图像的分辨率和对比度。结论:利用平板探测器技术摄影时,如果成像环节的空间分辨率相近,所获得的图像上则会形成规律性强、肉眼极易分辨的波样条纹状干扰;如果空间频率偏差较大或成整倍数关系,图像上则不会产生波样条纹状干扰或干扰不明显。选择适当的摄影条件可起到改善图像质量的作用。
简介:气体探测器是北京谱仪Ⅲ(BESⅢ)的重要组成部分,其性能直接影响BESⅢ的正常运行,而气体比分及其稳定性是影响气体探测器性能的关键参数。ETOF端盖升级为气体探测器后需要监测质量流配比混合气精度,本文设计了一套实验分析方法。北京谱仪原有两个气体探测器,加上北京谱仪端盖飞行时间探测器ETOF共三个气体探测器,本文设计了一套自动分析系统,将三个探测器实现实时切换自动分析。该系统从北京谱仪新型气体探测器多气隙电阻板室(Multi-gapResistivePlateChamber,MRPC)、主漂移室(MDC)、缪子探测器前端混气缸通向BESⅢ中的混合气体中分别抽取少量混合气体,通过气相色谱仪GC7890A用气相色谱法对混合气体质量比分进行实时监测与分析。GC7890A通过长时间监测分析混合气体质量比分,和质量流量计设定质量流量比分相比,前后两者基本一致。表明质量流量计工作在正常状态,气体比分稳定,可以保证探测器实验运行正常。
简介:摘要对于空心电抗器内表面的检测大多数都采用工业光纤内窥镜。工业内窥镜为获得大的视场角,一般采用超广角鱼眼镜头,图像畸变大,景深小;工业内窥镜一般采用光学直视系统进行观察,对观察者而言使用不便,即使使用了电视影像传输系统,受传像束分辨率的限制,也很难得到高质量的图像。
简介:对比了ICP刻蚀和湿法腐蚀制备台面型InP/InGaAs雪崩光电二极管(APD)时侧壁、表面形貌的不同,以及对暗电流和击穿电压的影响。在Cl2/Ar2/CH4条件下感应耦合等离子体(ICP)刻蚀InP会出现表面粗糙,对其原因进行了探究。并主要对ICP的刻蚀时间和刻蚀功率进行了优化,提高刻蚀表面的温度,保证了刻蚀的稳定性并改善了InP刻蚀表面的形貌,确定了稳定制备APD器件的刻蚀条件,最终制备出性能优良的台面型APD器件。
简介:摘要周跳(cycleclips)是在全球定位系统技术的载波相位测量中,由于卫星信号的失锁而导致的整周计数的跳变或中断。正确地探测并恢复周跳,是全球定位系统载波相位测量中非常重要且必须解决的问题之一。本文主要讨论的是Blewitt组合探测方法探测周跳,通过程序对数据处理,验证Blewitt组合探测方法可以探测小周跳和等距周跳。