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  • 简介:将近景摄影测量技术用于相似材料模型变形测量是一种新的方法,模型量测的精度主要依赖于定位算法的精度在此基础上,本文设计了一种应用于相似材料模型的标志,实现了两种算法自动识别该标志,并对结果进行精度比较,得出更适合于相似材料模型的一种算法、

  • 标签: 亚像素 相似材料模型 高精度定位算子