简介：在制品库存控制是生产制造系统的一项重要活动,它直接关系到工厂的产出、生产周期和物料投放.当前很多半导体封装测试厂还没有形成一个系统化的库存管理模式,导致库存过高或不均,直接影响产出和生产成本.文章将阐述半导体封装测试厂如何选用并有效实施CONWIP系统,以及它在生产控制、降低库存和缩短生产周期上发挥的积极作用.

简介：机载雷达自动测试系统的数据库存取与管理是该系统的重要组成部分，本文阐述了Client/Server型数据库和与测试程序之间的集成与操作方式，分析了ODBC的应用及其组成，对大规模和小规模测试系统提出了不同的信息交换体系结构。

简介：在并行FIR的快速迭代短卷积算法（ISCA）基础上，采用多级小尺寸并行FIR结构级联结构，实现了一种新型并行FIR滤波器。在增加一定量的加法器和延迟单元等弱运算强度单元的情况下，大大减少使用的乘法器数量。一个采用3级（2×3×6）级联结构的2并行36抽头FIR滤波器仅需18个乘法器，比单级ISCA算法实现的FIR结构节省了67％，更适合于专用并行FIR滤波器的VLSI实现。

简介：经典多级结构的数字抽取滤波器占用系统大量的功耗与面积资源,文章设计的改进型64倍降采样数字抽取滤波器采用由级联积分梳状滤波器、补偿FIR滤波器和半带滤波器组成,在保持Σ-ΔADC转换精度的约束下,实现了最大程度降低系统功耗与面积的设计目标。在多级级联积分梳状（CIC）滤波器的设计中,充分运用置换原则以优化各级级数并采用非递归结构实现方式,同时将多相结构运用到补偿滤波器与半带滤波器中,获得电路功耗与面积的明显降低。将Σ-Δ调制器输出信号作为测试激励,通过Matlab系统仿真、FPGA验证与FFT信号分析,得到的输出数据信噪比达到15bit有效位数精度,且系统速度满足要求。