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高可靠集成电路典型失效模式类型与原因分析

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摘要摘要：高可靠集成电路是现代电子产品中不可或缺的核心组成部分。然而，由于各种原因，高可靠集成电路也存在着一定的失效风险。了解典型的失效模式类型和其原因分析，对于提高集成电路的可靠性和性能至关重要。通过持续的创新和改进，我们可以进一步提高高可靠集成电路的可靠性和性能，为电子产品的发展做出更大的贡献。

DOI 54k2mrr5e4/8106909

作者陆伟华

机构地区 440602197408041594 广东省佛山市 528000

出处《电力科技与环保》 2024年1期

关键词高可靠集成电路典型失效模式类型原因

分类 [环境科学与工程][环境工程]

出版日期 2024年03月28日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）