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  • 简介:10月18日起.中科技在全国范围推出了“大积大利迎新年……中积分奖励活动”。活动规定,中科技核心二级经销商及向中直接订货的经销商每订购一台参选扫描仪.都将会得到相应的积分。每计1分将给予20元返款奖励,获得积分100%的机会非常大。此次推出的“中积分奖励活动”主要针对目标是遍布全国各中.小城市的二级经销商。

  • 标签: 中晶科技 科技重奖 谢渠道
  • 简介:设计了一种用于高速流水线ADC的多相时钟产生电路。通过采用一种高灵敏度差分时钟输入结构和时钟接收电路,降低了输入时钟的抖动。该多相时钟产生电路已成功应用于一种12位250MSPS流水线ADC,电路采用0.18μm1P5M1.8VCMOS工艺实现,面积为2.5mm^2。测试结果表明,该ADC在全速采样条件下对20MHz输入信号的信噪比(SNR)为69.92dB,无杂散动态范围(SFDR)为81.17dB,积分非线性误差(INL)为-0.4-+0.65LSB,微分非线性误差(DNL)为-0.2-+0.15LSB,功耗为320mW。

  • 标签: 流水线模数转换器 时钟产生 时钟接收
  • 简介:欧洲的RoHS和中国的RoHS都严禁使用有害物质铅及铅合金,电子领域元器件安装用的焊接材料Sn/Pb首当其冲。为了寻求替代产品,人们开发了不含Pb的Sn基焊料。然而不含Pb的Sn镀层易产生锡须,引起电子设备短路故障。为此,对锡须的研究又重新摆在电子工程师们面前。本文执应力学成因一说,以电子连接器的触点为叙述点,把却融.地从外部到镀层表面形成的应力所产生的锡须定义为外部应力型,并主要叙述以连接器为中心的外部应力型须;另一方面,把从基底材料的扩散和表面氧化等自然现象所产生的锡须定义为内部应力型须。文中推荐了锡须的测试方法,阐述了锡须的形成机理,并简要介绍了对锡须研究的现状及今后的研究课题。

  • 标签: 锡晶须 无铅化 Sn镀层 连接器 应力学
  • 简介:<正>2014年3月14日-高性能线性和电源解决方案、局域网以及时钟管理和通信解决方案领域的行业领导者麦瑞半导体公司发布一款四输出crystallessTM时钟发生器DSC400。这是麦瑞半导体第一款基于MEMS的时钟产品,它采用麦瑞半导体获得行业认证的PureSiliconTMMEMS技术,提供卓越的防抖和稳定性,同时加入了更多功能。该器件针对广泛的应用,包括通信和网络;1G以太网、10GBASE-T/KR/LR/SR和FCoE;存储区域网、FC、SATA、

  • 标签: 时钟发生器 半导体 解决方案 时钟管理 存储区域网 局域网
  • 简介:<正>据《SolidstateTechnology》2003年第3期报道,美国北卡州三角研发园区的Ziptronix公司新开发了不同半导体界面材料的键合技术,将微机电系统(MEMS)和声表器件(SAW)进行全圆级的封装。这一工艺技术进行各种灵活且低成本的设计,并使MEMS与IC技术匹配,而无需复杂的结构、测试和组装,这一工艺技术约占MEMS元件成本的

  • 标签: 晶圆级封装 MEMS 键合技术 微机电系统 半导体界面 工艺技术
  • 简介:<正>近日,台湾环保署增订石化业、石化专区污水下水道系统、圆制造及半导体制造业放流水标准,将氨氮、含氯或含苯等6项挥发性有机物以及DEHP等6项塑化剂列入管制。环署预估,将减少4000吨的氨氮排入河川水体,并可督促厂商谨慎处理含氯和含苯等致癌性较显著化合物、与加强制程废溶剂源头的管理。新增标准将管制石油化学业的河川与海洋管线放流水,其中苯、氯乙烯等6项挥发性有机物质,及DEHP、DNOP、DMP、DEP、DBP、BBP等6种塑化剂的含

  • 标签: 半导体业 晶圆制造 水标准 谨慎处理 半导体制造业 放流
  • 简介:是一家集产品研发、生产、销售于一体的扫描仪厂家,其产品不但广受国内用户的青睐.而且在国际上也同样是享誉盛名.每年的出口额都在亿元人民币以上。中在扫描仪上的研究没少花力气.随着影像行业竞争的激烈.对扫描仪的品质也提出了更高的要求。而今天.我们一起来看看中新近推出的一款面向高级用户的产品——i800。型号前面的字母“i”表示它具有了先进的ICE硬件除尘功能.此功能在爱普生P4990上已经展现过。那如今在i800的身上会表现如何呢7请看下面我们对i800的详细评测。

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  • 简介:<正>《中国电子报》消息:6月2日,中芯国际首台12英寸圆生产设备进厂。此设备将用于中芯国际位于北京的12英寸圆制造厂,该厂是在我国建设的首座12英寸晶圆厂,该设备的进厂标志着我国IC制造业开始步入300mm时代。中芯国际12英寸晶圆厂已经拥有英飞凌和尔必达这些国际领先的合作伙伴,并且将在12英寸生产方面继续持谨慎态度,只有在客户需求的情况下,才会增加产能,到2005年底,中芯国际北京四厂的计划产能为45000片/月(以8英寸等值圆计算)。

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  • 简介:圆探针测试当中,常会由于测试环境或是针测机台参数的改变,使得针痕不正常偏移并打出开窗区,造成测试时的误宰,因而造成公司的损失。文章将就圆针测中,由于温度变化所造成的不正常针痕偏移进行分析与研究。

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  • 简介:<正>意法半导体、飞利浦和摩托罗拉等公司合作组成的Crolles2联盟日前在法国成立联合研发中心,致力于12英寸圆的新一代半导体制造技术。该联合研发中心将在未来的5年中致力于把目前90纳米CMOS工艺提升到32纳米,同时,中心内的一条12英寸圆生产线已正式启动。Crolles2联盟是全球几大公司在

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  • 简介:DEK公司宣布,针对今天要求最严格的封装应用,开发突破性的圆凸起和焊球置放解决方案。通过使用高效的丝网印刷技术和封闭式印制头材料挤印等使能技术,DEK现成功实施了具成本效益及高良率的圆凸起和焊球置放工艺技术,足以取代传统的方法。

  • 标签: DEK公司 凸起 晶圆 丝网印刷技术 使能技术 工艺技术
  • 简介:<正>半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)旗下全资子公司TouchdownTechnologies推出了其1Td300全圆探卡,这是该公司首款用于高级DRAM存储器件单次触压、高容量测试的探卡。该产品能够对300mm或200mm圆进行高并行测试(highlyparalleltesTIng)。每探针只需要2g压力就能够测试整个300mm圆,堪称业界最低的探针压力,所需压力不到市面上同类产品的一半。1Td300探卡提供了双重优势,不仅能够降低对被测圆和整个测试台的压力,同时允许更高的引脚数,以拓展半导体测试范围。《国际半导体技术蓝图》(ITRS)预计,到2011年,DRAM的多

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