简介：根据驻点声速的现有知识,通过数学推导,得到了声速与流速的关系计算公式,时间相对性公式和多普勒效应公式。

简介：激光多普勒测速实验是基于A-D转换原理,将光信号转换为电信号从而测量斩波器的转动速度。实验要求正确调节光路,理解多普勒原理,学会客观、准确的分析实验现象。文章介绍了实验的基本原理和操作步骤,通过对实验数据的处理分析对实验提出了改进意见。

简介：用一种统一而简便的方法推导出各种情况下的多普勒效应,揭示出不同情况、形状不同多普勒效应的相同本质。

简介：本文采用简单方法,从现象到本质,从特殊到一般,对多普勒效应进行了系统分析,逐步推导出多普勒效应定量公式;为了易于理解,通过举例说明其应用。

简介：本文将采用波源、接收器相对媒质的运动对波形传播的影响来阐明多普勒效应的机理。这种阐述方法比人们通常用的方法更浅显、直观、形象和透彻，更易于理解

简介：在模拟计算高温系统中子输运问题时，为了快速在线处理中子核截面，基于多普勒展宽原理，发展了一种修正多普勒展宽方法。通过在低能区引入低能截面修正因子、调整计算方法及合理设置数值积分计算参数等，进行了数值算法优化，探讨了NJOY程序对高能区中子截面展宽的限制及影响，在自主开发的蒙特卡罗输运程序中实现了中子截面的快速在线展宽处理，并比较了NJOY程序与本文程序计算的截面数据。结果表明，本文程序给出的高温展宽截面准确性高，计算效率能满足快速在线展宽需求，可高效处理在线中子截面展宽问题。

简介：我们模拟了一个原理相对容易、结构相对简单的超声成像实验.通过超声波测试仪发射和接收换能器信号,输出的电压信号送入计算机的4/D卡.A/D卡的另一通道采集换能器的跃变位置信息,并将数据提供给成像程序,把物体某一断层的截面图画出.通过这一实验,我们可以了解超声波在固/液两相流中的传播原理,同时也可掌握数据采集和一般的成像方法.

简介：介绍一个超声波反射式液位计。给出发射电路、接收电路、计数电路和显示电路等的设计

简介：介绍了超声波测距和超声波测速的基本原理及应用。根据超声波探测技术中的测距和测速原理设计制作了相关实验组件。利用数据采集系统对超声波测距、超声波测速中的时间延迟、距离、频移量进行了测量，给出了声速、计算距离，相对速率等结果及误差分析。

简介：本设计采用STC12C5A60S2单片机为核心控制器，用超声波测距传感器采集距离数据，采用IO触发测距，提供约为25us的高电平信号，利用公式：测试距离=（高电平时间＊声速（340m/s））/2来计算距离，采用L298N驱动模块利用PWM驱动电路，从而实现自动调节小车速度、无障碍时自动发出警报的功能。

简介：论述了超声光栅的形成机理,运用定性半定量的方法,唯像而直观地给出了超声光栅衍射条纹的强度分布,并就相关问题进行了讨论。

简介：药柱传统的手动A型扫描探伤方法存在，检测过程的稳定性以及检测结果的准确性、可靠性较低，检测结果不够直观等不足之处。为了解决这些问题，对超声C-扫描成像检测技术的系统条件、技术参数、缺陷大小的系统标定等开展了研究，确定了炸药柱水浸式超声C-扫描成像检测条件，并对利用手动A型超探仪探伤有缺陷（包括分层类和疏松）的PBX-9003和TNT药柱进行了C-扫描成像检测。

简介：精密位移机构既是重要的运动执行元件，也是对工艺系统误差进行动态、静态补偿的元件。目前常见的精密位移机构一般利用弹性变形、机械传动、电磁力和压电陶瓷、电致伸缩和磁致伸缩等方式实现，这些方法都难以同时具有高频响、大行程、高精度的特点，有的还需中间的传动机构，结构复杂，精度难以提高，存在电磁干扰等问题。

简介：通过二维离散小波变换将超声医学图像投影到小波变换域,利用Donoho软阈值技术方法进行降噪处理,可快速有效地去除图像的斑点噪声

简介：高密度钨基合金（p≈18g／cm^3）部件经粉末等静压成型、烧结后，机械加工成一端带法兰的圆筒形部件，在初加工后要求进行100％超声波检测，不得有大于φ1．2mm的缺陷。

简介：本文对测量固体隔声层对超声波传播发生影响的实验装置进行了介绍,并进行了实际测量,理论和实验结果相符较好

简介：纳米级银粉，以其纳米尺寸所赋予的独特性能，可广泛应用于催化剂材料、电池电极材料、低温材料和导电浆料，探索纳米银粉的制备方法具有重要的意义。2004年，通过超声化学法，在乙二醇介质中、以硝酸银为原料制备出了有机包覆的纳米银。产物用X射线光电子能谱仪（XPS）、透射电子显微镜（TEM）和红外光谱等进行了检测。

简介：介绍了超声传感器等的应用，得出了通过相位比较法测量在不同浓度溶液中的声速并进行研究的一种新方法。同时利用C语言编程进行数据处理，避免了烦琐的计算且误差较小，使结论更合理。

简介：利用10MeV质子对130nm部分耗尽SOIMOS器件进行辐照,测试了在不同辐照吸收剂量下,器件的辐射诱导泄漏电流和栅氧经时击穿寿命等参数,分析了质子辐照对器件TDDB可靠性的影响.结果表明：质子辐照器件时,在Si-SiO2界面产生的界面陷阱电荷,增加了电子跃迁的势鱼高度,减少了电荷向栅极的注入,减小了器件的RILC,增加了器件的TDDB寿命.